膜厚儀有多種類型，它們的測量原理、測量方法和兼容材料各不相同，因此有必要根據(jù)應(yīng)用場合使用一種。下面，我們將介紹六種薄膜測厚儀并解釋每種薄膜測厚儀的特點。

這是一種利用“磁通密度”（即拉動磁鐵的力）來測量涂膜的膜厚計，可在基材為粘附在磁鐵上的金屬的情況下使用。測量針使用含有電磁鐵的線圈，通過與被測物體接觸時磁通密度的變化來計算涂層厚度。

磁通密度值根據(jù)涂層表面到涂層下方基材的距離而變化。例如，如果涂層很薄，則基底和探頭之間的距離就會很短，磁通密度就會很高。涂層越厚，基體與探頭之間的距離越長，磁通密度越低。磁通密度的差異用于測量油漆的厚度。

電磁膜厚計可用于鋼鐵等磁性金屬基體上鍍有鍍層或樹脂膜等非磁性涂層的產(chǎn)品和設(shè)備。不能用于帶有磁性涂層的產(chǎn)品或設(shè)備。

過流式膜厚計采用測針探頭內(nèi)含有電磁鐵的線圈，但測量原理與電磁式膜厚計不同。渦流膜厚計根據(jù)尖端與被測物體接觸時產(chǎn)生的過電流的強度來測量涂膜。由于它使用電流，因此還可以測量不粘附磁鐵的金屬涂層。

過電流的強度由被測物體表面到基板的距離決定。涂層越薄，過電流越強，涂層越厚，過電流越弱。計算涂膜的方法有兩種：利用過電流的振幅的接觸法和利用過電流的相位差的非接觸法。

溢流式膜厚儀是測量非磁性金屬絕緣涂層的完美機器。具體來說，它適用于測量在鋁或銅等基材上涂有塑料或樹脂的產(chǎn)品和設(shè)備。但如果涂有導(dǎo)電物質(zhì)就不能使用。

兼具電磁式膜厚計和溢流式膜厚計的測量功能的膜厚計。它既可以測量鋼鐵等磁性材料，也可以測量鋁、銅等非磁性金屬。有使用電磁式和電流式這兩種不同類型的測針的類型，以及可以用單個測針處理這兩種類型的類型。

這是一種利用超聲波的傳播時間來測量涂膜的膜厚計，其獨特之處在于它也可以用于非金屬基材。將探頭與被測物體表面接觸，根據(jù)探頭發(fā)出的超聲波到達(dá)基材并被反射回來所需的時間（聲速）得出涂膜的厚度。

超聲波膜厚儀適用于混凝土、木材、玻璃、塑料等基材上的涂層。雖然每種材料的聲速值大致固定，但聲速根據(jù)各個涂層的不同而變化，因此必須進行調(diào)整以適應(yīng)測量目標(biāo)。

這是利用光的干涉效應(yīng)進行測量的膜厚計。可測量電子部件、醫(yī)療設(shè)備、光學(xué)材料、半導(dǎo)體設(shè)備等多種材料的膜厚。

當(dāng)薄膜受到光照射時，會發(fā)生兩次反射：一次在薄膜表面，一次在薄膜背面。當(dāng)反射光的波長匹配時，光的強度增加；當(dāng)反射光的波長偏離時，光的強度減弱。光干涉是光的強度根據(jù)相位（各反射光的波長）而變化的現(xiàn)象。

測量方法是將光纖發(fā)出的光照射到被測物體上，用光纖接收物體反射的光，分析光的干涉圖樣，得出厚度。光譜干涉膜厚儀的另一個特點是可以處理表面粗糙的薄膜和多層薄膜。

這是一種膜厚計，根據(jù)漆膜的厚度和材質(zhì)，吸收一定波長的紅外線，從而測量漆膜的厚度。通過分析被測物體受到紅外線照射時產(chǎn)生的透射光和反射光的光譜來計算厚度。

使用紅外膜厚儀的優(yōu)點是受被測物體表面狀況、顏色濁度、振動等影響較小，可以快速、非接觸式測量。它不僅用于測量漆膜的厚度，還可以測量塑料薄膜等單層和多層薄膜的厚度。

還有紅外薄膜測厚儀，可以根據(jù)波長的組合測量丙烯酸、聚氨酯、硅膠等各種材料的厚度。