直流耐壓測試儀 ST5680日本HIOKI日置
基本規(guī)格精度保證：1年主要功能直流耐壓測試、絕緣電阻測試、擊穿電壓測試、波形顯示功能、電弧放電檢測、接觸檢查功能詳細信息請參閱“各種測試和功能”表其他功能列表互鎖、GFI、自動放電、偏移取消、測試期間設置電壓修改、瞬時輸出、命令監(jiān)視器、I/O 處理程序測試、按鍵鎖定、自檢、校準期限檢查、EXT SW（遠程控制）使用溫度和濕度范圍0°C 至 40°C（32°F 至 104°F），80% RH 或更低
基本規(guī)格
精度保證：1年
| 主要功能 | 直流耐壓測試、絕緣電阻測試、擊穿電壓測試、波形顯示功能、電弧放電檢測、接觸檢查功能 詳細信息請參閱“各種測試和功能”表 |
|---|---|
| 其他功能列表 | 互鎖、GFI、自動放電、偏移取消、測試期間設置電壓修改、瞬時輸出、命令監(jiān)視器、I/O 處理程序測試、按鍵鎖定、自檢、校準期限檢查、EXT SW（遠程控制） |
| 使用溫度和濕度范圍 | 0°C 至 40°C（32°F 至 104°F），80% RH 或更低（非冷凝） |
| 標準 | 安全：IEC 61010 EMC：IEC 61326 A 類 |
| 電源 | 100 至 240 伏交流電 |
| 能量消耗 | 大約。180 VA 供電條件為：220 V 電源電壓、50 Hz/60 Hz 電源頻率、直流耐壓測試模式、2.5 kV 測試電壓、5 mA 負載電流（500 kΩ 負載電阻）。 |
| 最大額定功率 | 800伏安 |
| 界面 | 通訊：USB、LAN、EXT I/O 選項：RS-232C (Z3001)、GP-IB (Z3000) 內存：USB 驅動器 |
| 尺寸和質量 | 大約。305 毫米（12.01 英寸）寬 × 142 毫米（5.59 英寸）高 × 430 毫米（16.93 英寸）深（不包括突出部分）10 公斤（352.7 盎司） |
| 隨附配件 | 電源線 ×1、CD ×1（PDF：使用說明書、通信使用說明書）、EXT I/O 公頭連接器 ×1、EXT I/O 連接器蓋 ×1、EXT I/O 專用互鎖解除連接器×1、入門指南 ×1 |
各種測試和功能
| 直流耐壓測試 | 輸出電壓：DC 0.010 kV 至 8.000 kV（1 V 分辨率） 負載調整率：±1% 或更小 輸出設定精度：±（設定值的 1.2% + 20 V） 輸出電流/截止電流：最大 20 V 100 mA 電流精度： > 3.00 mA：±(1.5% rdg. + 2 μA) ≤ 3.00 mA：±1.5% rdg. 最大分辨率：0.001 μA 測試時間：0.1 s 至 999 s，連續(xù)（定時器關閉） 電壓上升/下降時間：0.1 s 至 300 s / 0.1 s 至 300 s，關閉 短路電流：200 mA 或更少 測試模式：W 到 IR、IR 到 W、程序測試 |
|---|---|
| 絕緣電阻測試 | 輸出電壓：10 V DC ～ 2000 V（分辨率 1 V） 輸出設定精度：±（設定值的 1.2% + 2 V） 電阻值顯示范圍：10.00 kΩ ～ 200.0 GΩ（分辨率 0.01 kΩ） 精度保證范圍：10.00 kΩ ～ 99.99 GΩ 電阻精度：±(1.5% rdg. + 3 dgt.) 詳情請參閱“絕緣電阻測量精度”表 測試時間：0.1 s 至 999 s，連續(xù)（定時器關閉） 電壓上升/下降時間：0.1 s 至 300 s / 0.1 s 至 300 s，關閉 |
| 擊穿電壓測試 | 測試方法：連續(xù)升壓測試、階梯升壓測試 測量：絕緣擊穿電壓（kV）、絕緣擊穿強度（kV/mm） 設置：起始電壓、終止電壓、上升速度、電弧檢測、電極距離、上限電流 |
| 波形顯示功能 | 波形顯示：電壓、電流、絕緣電阻 采樣率：500kS/s 分辨率：256K字 |
| 電弧放電檢測 | 檢測方法：監(jiān)測測試電壓波動 設置：測試電壓波動1%至50% |
| 接觸檢查功能 | 檢測方法：電容測量法 設置：閾值（電容）設置 1.0 nF 至 100.0 nF |
| 記憶功能 | - 波形/圖形保存： 保存到 USB 存儲器 保存格式：BMP、PNG、CSV - 面板存儲功能： 在儀器內部保存測試條件設置 直流耐壓測試/絕緣電阻測試：每組最多 64 組設置 程序測試：最多 30 個程序（最多 50 個步驟） 絕緣擊穿電壓測試：最多 10 組設置 - 數據存儲功能 將測量值保存在儀器內存中（最多 32,000 個值） |
| 判斷功能（判斷輸出） | PASS判定、FAIL判定(UPPER FAIL、LOWER FAIL) UPPER_FAIL : 測量值>上限值 PASS : 上限值≥測量值≥下限值 LOWER_FAIL : 測量值<下限值 |
絕緣電阻測量精度
精度保證測試電壓范圍：50 V 至 2000 V
| 測量范圍 | 10 kΩ 至 99.99 GΩ (*1) | |
|---|---|---|
| 10nA≤I≤3μA | 100MΩ～999.9MΩ 1.00GΩ～99.99GΩ | ±（20% 讀數） *2、*3、*4 |
| 100nA≤I≤30μA | 10.00MΩ～99.99MΩ 100.0MΩ～999.9MΩ | ±（5% 讀數） *2、*3、*4 |
| 1μA≤I≤300μA | 1.000兆歐～9.999兆歐 10.00兆歐～99.99兆歐 | ± (2% rdg. + 5 dgt.) *2, *3, *4 |
| 10μA≤I≤3mA | 100.0kΩ～999.9kΩ 1.000MΩ～9.999MΩ | ± (1.5% rdg. +3 dgt.) *2, *3, *4 |
| 100μA≤I≤30mA | 10.00kΩ～99.99kΩ 100.0kΩ～999.9kΩ | ± (1.5% rdg. +3 dgt.) *2, *3, *4 |
| 1毫安≤I≤100毫安 | 10.00kΩ～99.99kΩ | ± (1.5% rdg. +3 dgt.) *2, *3, *4 |
*1:適用于最大額定值 500 VA 范圍
*2:如果測試電壓為10V至99V，則測量精度增加±10%。
*3:如果測試電壓為100V～999V，則測量精度增加±5%。
*4:如果測試電壓為1000V～2000V，則測量精度增加±2%。