Nicomp動態(tài)光散射（DLS）系統(tǒng)可檢測0.3 nm到10μm的粒度分布及zeta電位。Nicomp 系統(tǒng)搭載著Nicomp 多峰算法，解決了復雜體系樣本顆粒分布檢測的難題。它可以將一個次峰從主峰的尾巴中分離出來，幫助研究人員確定樣本主要成分的顆粒度大小。當嘗試開發(fā)新材料時，這是一個至關(guān)重要的參數(shù)，這將很大程度上影響產(chǎn)品的最終性能。工作原理Nicomp 3000 系列納米激光粒度儀采用動態(tài)光散射
Nicomp動態(tài)光散射（DLS）系統(tǒng)可檢測0.3 nm到10μm的粒度分布及zeta電位。Nicomp 系統(tǒng)搭載著Nicomp 多峰算法，解決了復雜體系樣本顆粒分布檢測的難題。它可以將一個次峰從主峰的尾巴中分離出來，幫助研究人員確定樣本主要成分的顆粒度大小。當嘗試開發(fā)新材料時，這是一個至關(guān)重要的參數(shù)，這將很大程度上影響產(chǎn)品的最終性能。
工作原理
Nicomp 3000 系列納米激光粒度儀采用動態(tài)光散射原理檢測分析樣品的粒度分布?；诙嗥绽针娪竟馍⑸湓恚―oppler Electrophoretic Light Scattering，DELS）檢測ZETA電位。其主要用于檢測額納米級別及亞微米級別的體系，粒徑檢測范圍0.3nm-10μm，ZETA電位檢測范圍為+/-500mV。動態(tài)光散射方法（DLS）從傳統(tǒng)的光散射理論中分離，關(guān)注光強隨著時間的波動行為。我們通過光強值的波動得到自相關(guān)函數(shù)，從而獲得衰減時間常量 T，根據(jù)公式換算獲得粒子的擴散速度 D（Diffusion，擴散系數(shù)）
Stokes-Einstein方程∶ D=kT/6rnR D=擴散系數(shù) T=溫度 R=粒子半徑 η=粘度 k=玻爾茲曼常數(shù) |
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粒徑檢測原理圖 | |
Zeta電位的檢測時，在樣品插入電極，施加電壓，根據(jù)樣品中電荷的遷移方向確認電荷正負性，根據(jù)遷移速率確認Zeta電位絕對值。Nicomp Z3000設(shè)備集成兩種Zeta電位算法：頻譜分析法和相位分析法。相位分析法在很大程度上解決了頻譜分析儀在高鹽體系，有機相體系檢測中的局限性，PSS也是首家將相位分析法應用于Zeta電位檢測。
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Zeta電位檢測原理圖 |
應用
醫(yī)藥領(lǐng)域：蛋白、病毒、脂質(zhì)體、乳劑、膠束、納米晶、疫苗、納米載藥、細胞等
化工領(lǐng)域：墨水，顏料，高分子材料，化工染料，潤滑劑，石油化工，量子點等；
半導體領(lǐng)域：光刻膠、CMP slurry、樹脂等；
其他：食品，飲料，化妝品等；
| Nicomp Z3000納米粒度及ZETA電位分析儀 | ||
| 配置 | Standard 標準版 | Plus 高配款 |
| 溫度范圍 | 0℃~90℃（±0.1℃控溫精度，無冷凝） | |
| 標準激光 | 15mW激光光源 | 35mW激光光源 |
| pH值范圍 | 1~14 | |
粒度 | ||
| 分析方法 | 動態(tài)光散射，Gaussian分布和Nicomp多峰分布 | |
| 檢測范圍 | 3nm~10μm | |
| 最小樣品量 | 10μL | |
| 最大濃度 | 40%w/V | |
| 測量角度 | 90° | 多角度 （10°~175°，包含90°，步進0.7°） |
| 分子量 | 342-2*107 Da | |
| Zeta電位 | ||
| 分析方法 | 多普勤頻譜分析法/相位分析法 | |
| 適用粒徑 | 0.3nm~100μm | |
| 電位范圍 | >±500mV | |
| 最大濃度 | 40%w/v | |
| 測量角度 | -14.9° | |
| 附件 | ||
| 檢測器 | PMT（光電倍增管） | APD（雪崩二極管） |
| 樣品池 | ■ | ■ |
| 科研級軟件 | ■ | ■ |
| 雙列直插式鈀電極 | ■ | ■ |
| 21CFR Part11軟件 | □ | □ |
| 自動進樣模塊 | / | / |
| 自動稀釋模塊 | / | / |
| 多角度檢測模塊 | / | ■ |
| 尺寸 | 56cm*4lcm*24cm | |
| 重量 | 約26kg（與配置相關(guān)） | |
| 注：以實際樣品為準 | ■標配，隨箱自帶 | □選配，單獨購買 |
